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技術(shù)文章

TECHNICAL ARTICLES

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  • 202511-8
    X射線吸收譜儀的“能量解碼”:從同步輻射光源到單色化系統(tǒng)的全鏈路解析

    X射線吸收譜的核心在于精確測量材料對X射線的吸收系數(shù)隨光子能量的變化,從而解碼出元素的原子種類、化學(xué)價態(tài)與局域結(jié)構(gòu)信息。這一“能量解碼”任務(wù)的成功,極度依賴于從源頭到單色化的全鏈路精密控制。1.同步輻射光源:高強度與寬譜的起點同步輻射光源是XAS測量的理想光源。其產(chǎn)生的X射線具有強度高、準直性好、能量連續(xù)可調(diào)的獨特優(yōu)勢。高強度確保了在稀薄樣品或快速過程中也能獲取高質(zhì)量數(shù)據(jù);寬連續(xù)譜(白光)則為后續(xù)的單色化提供了廣闊的“原料”范圍,使得在任意元素吸收邊進行測量成為可能。這是實驗...

  • 202510-16
    X射線吸收譜儀的同步輻射光源與單色化技術(shù)

    X射線吸收譜是解析材料原子局部結(jié)構(gòu)與電子性質(zhì)的強大工具,而其測量性能的核心保障,正是來自同步輻射光源與精密的單色化技術(shù)。一、同步輻射光源:理想的高亮度X射線源與傳統(tǒng)X射線管相比,同步輻射光源為X射線吸收譜測量提供了的優(yōu)勢:高亮度:同步輻射產(chǎn)生的X射線強度比實驗室X光管高出數(shù)十億倍,這使得測量稀薄樣品(如溶液、薄膜、低濃度摻雜材料)和獲取高質(zhì)量數(shù)據(jù)成為可能。寬連續(xù)譜:同步輻射提供從紅外到硬X射線的連續(xù)波長覆蓋,允許用戶自由選擇特定元素的吸收邊能量進行精確測量。高準直性:產(chǎn)生的X...

  • 20259-11
    揭秘物質(zhì)的局部結(jié)構(gòu):X射線吸收譜儀(XAS)技術(shù)簡介

    X射線吸收譜儀(XAS)是一種基于同步輻射光源的先進光譜技術(shù),通過分析X射線與物質(zhì)相互作用后的信號變化,揭示材料的元素組成、電子態(tài)及微觀結(jié)構(gòu)信息。其核心在于利用X射線激發(fā)原子內(nèi)層電子,通過檢測電子躍遷產(chǎn)生的熒光或俄歇電子信號,獲取物質(zhì)局域結(jié)構(gòu)的“指紋”信息。技術(shù)原理:電子躍遷的“顯微鏡”當(dāng)X射線能量達到原子內(nèi)層電子的電離閾值時,會引發(fā)電子躍遷,形成吸收邊。根據(jù)能量范圍不同,XAS分為兩個關(guān)鍵區(qū)域:X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)(XANES):吸收邊10eV至后50eV,反映電子態(tài)和化學(xué)環(huán)...

  • 20258-14
    X射線吸收譜(XAS)基本原理:從EXAFS到XANES的物理機制

    X射線吸收譜(XAS)通過測量物質(zhì)對X射線的吸收特性,揭示原子局域電子態(tài)及幾何結(jié)構(gòu)信息,其核心由擴展X射線吸收精細結(jié)構(gòu)(EXAFS)和X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)(XANES)兩部分組成,二者的物理機制均源于X射線激發(fā)內(nèi)層電子后光電子波與近鄰原子的散射干涉效應(yīng),但能量范圍與散射路徑的差異導(dǎo)致其反映的結(jié)構(gòu)信息各有側(cè)重。EXAFS的物理機制EXAFS觀測吸收邊高能側(cè)30-1000eV范圍的振蕩信號,其根源是光電子的單次散射效應(yīng)。當(dāng)X射線能量超過內(nèi)層電子電離能時,原子吸收光子并激發(fā)內(nèi)層電子為...

  • 20257-15
    電化學(xué)原位XAFS反應(yīng)池的模塊化設(shè)計原理

    電化學(xué)原位XAFS反應(yīng)池的模塊化設(shè)計以提升實驗靈活性、數(shù)據(jù)可靠性及操作便捷性為核心,通過標準化功能單元實現(xiàn)多場景適配與性能優(yōu)化,其設(shè)計原理主要體現(xiàn)在以下幾個方面:1.功能模塊拆分與標準化接口設(shè)計反應(yīng)池被拆分為光學(xué)模塊、電化學(xué)模塊、流體控制模塊及環(huán)境控制模塊,各模塊通過標準化接口(如螺紋、卡扣)實現(xiàn)快速組裝與替換。例如:光學(xué)模塊:采用可拆卸的Kapton膜或石英窗,支持透射/熒光雙模式切換,窗體厚度與材質(zhì)根據(jù)X射線能量范圍(如2.5-20keV)定制,減少信號衰減。電化學(xué)模塊:...

  • 20256-30
    臺式XAFS其有著怎樣的功能呢?

    臺式XAFS是一種無需依賴同步輻射光源,即可在常規(guī)實驗室環(huán)境中實現(xiàn)高精度X射線吸收精細結(jié)構(gòu)測量的分析設(shè)備。它通過X射線單色器設(shè)計或羅蘭圓結(jié)構(gòu),將X射線能量聚焦至特定范圍(通常為4.5-25keV),結(jié)合透射或熒光檢測模式,獲取材料中特定元素的局域原子結(jié)構(gòu)、電子態(tài)及配位環(huán)境信息。臺式XAFS的主要功能包括以下幾個方面:1、材料結(jié)構(gòu)分析功能局域原子結(jié)構(gòu)表征:能夠確定吸收原子周圍局部環(huán)境的配位數(shù)、鍵長、鍵角等結(jié)構(gòu)參數(shù),提供原子尺度上的結(jié)構(gòu)信息,對于研究非晶材料、納米材料、催化劑等短...

  • 20256-17
    X射線吸收譜儀的技術(shù)原理與應(yīng)用實例

    技術(shù)原理X射線吸收譜儀(XAS)基于X射線與物質(zhì)中特定元素的相互作用。當(dāng)X射線穿過樣品時,特定能量的射線會被樣品中的原子吸收,引發(fā)電子躍遷,發(fā)射出特定波長的X射線。這些發(fā)射的X射線攜帶樣品原子結(jié)構(gòu)和電子狀態(tài)信息。XAS技術(shù)核心是精細調(diào)控X射線能量,激發(fā)樣品中特定元素的電子躍遷,并測量X射線的能量和強度。通過分析吸收譜線的形狀、位置和強度,能獲取元素價態(tài)、配位環(huán)境、化學(xué)鍵類型以及局部電子結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵信息。應(yīng)用實例在材料科學(xué)領(lǐng)域,XAS技術(shù)可用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、電子態(tài)以及元素分...

  • 20255-29
    談?wù)勁_式X射線吸收譜儀的軟件安裝與調(diào)試

    臺式X射線吸收譜儀是一種用于分析材料微觀結(jié)構(gòu)和元素特性的先進儀器,具備高精度、高靈敏度的特點,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域。其核心原理基于X射線與物質(zhì)中特定元素的相互作用。當(dāng)X射線穿過樣品時,特定能量的射線會被樣品中的原子吸收,引發(fā)電子躍遷并產(chǎn)生特征信號。通過精細調(diào)控X射線能量,儀器可激發(fā)樣品中特定元素的電子躍遷,并測量X射線的能量和強度,進而分析吸收譜線的形狀、位置和強度,獲取元素的價態(tài)、配位環(huán)境、化學(xué)鍵類型及局部電子結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵信息。臺式X射線吸收譜儀的軟件安裝與...

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